Quality control and beam test of GEM detectors for future upgrades of the CMS muon high rate region at the LHC

Abbaneo, D.; Abbas, M.; Abbrescia, M.; Abdelalim, A. A.; Akl, M. Abi; Ahmed, W.; Ahmed, W.; Altieri, P.; Aly, R.; Armaingaud, C.; Asawatangtrakuldee, C.; Ashfaq, A.; Aspell, P.; Assran, Y.; Awan, I.; Bally, S.; Ban, Y.; Banerjee, S.; Barria, P.; Benussi, L.; Bhopatkar, V.; Bianco, S.; Bos, J.; Bouhali, O.; Braibant, S.; Buontempo, S.; Cai, J.; Calabria, C.; Caponero, M.; Caputo, C.; Cassese, F.; Castaneda, A.; Cauwenbergh, S.; Cavallo, F. R.; Celik, A.; Choi, M.; Choi, K.; Choi, S.; Christiansen, J.; Cimmino, A.; Colafranceschi, S.; Colaleo, A.; Garcia, A. Conde; Dabrowski, M. M.; Lentdecker, G. De; Oliveira, R. De; Robertis, G. De; Dildick, S.; Dildick, S.; Dorney, B.; Elmetenawee, W.; Fabrice, G.; Ferrini, M.; Ferry, S.; Flanagan, W.; Giacomelli, P.; Gilmore, J.; Guiducci, L.; Gutierrez, A.; Hadjiiska, R. M.; Hassan, A.; Hauser, J.; Hoepfner, K.; Hohlmann, M.; Hoorani, H.; Jeng, Y. G.; Kamon, T.; Karchin, P. E.; Kim, H. S.; Khotilovich, V.; Krutelyov, S.; Kumar, A.; Lee, J.; Lenzi, T.; Litov, L.; Loddo, F.; Maerschalk, T.; Magazzu, G.; Maggi, M.; Maghrbi, Y.; Magnani, Alice; Majumdar, N.; Mal, P. K.; Mandal, K.; Marchioro, A.; Marinov, A.; Merlin, J. A.; Mohammed, N.; Mohanty, A. K.; Mohapatra, A.; Muhammad, S.; Mukhopadhyay, S.; Naimuddin, M.; Nuzzo, S.; Oliveri, E.; Pant, L. M.; Paolucci, P.; Park, I.; Passeggio, G.; Pavlov, B.; Philipps, B.; Phipps, M.; Piccolo, D.; Postema, H.; Pugliese, G.; Baranac, A. Puig; Radi, A.; Radogna, R.; Raffone, G.; Ramkrishna, S.; Ranieri, A.; Riccardi, Cristina; Rodrigues, A.; Ropelewski, L.; Roychowdhury, S.; Ryu, M. S.; Ryu, G.; Safonov, A.; Sakharov, A.; Salva, S.; Saviano, G.; Sharma, A.; Swain, S. K.; Talvitie, J. P.; Talvitie, J. P.; Tamma, C.; Tatarinov, A.; Teng, H.; Turini, N.; Tuuva, T.; Twigger, J.; Tytgat, M.; Vai, Ilaria; Stenis, M. Van; Venditi, R.; Verhagen, E.; Verwilligen, P.; Vitulo, Paolo; Wang, D.; Wang, M.; Yang, U.; Yang, Y.; Yonamine, R.; Zaganidis, N.; Zenoni, F.; Zhang, A.