Selection criteria for P- and N-channel JFETs as input elements in low-noise radiation-hard charge preamplifiers

Articolo

Data di Pubblicazione:

2001

Tipologia CRIS:

1.1 Articolo in rivista

Keywords:

low-noise design criteria; rad-hard design criteria; ionizing radiation effects; Lorentzian noise; junction field-effect transistors

Elenco autori:

Autori di Ateneo:

RATTI LODOVICO

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Pubblicato in:

Journal