Heavily Irradiated 65-nm Readout Chip With Asynchronous Channels for Future Pixel Detectors

Articolo

Data di Pubblicazione:

2018

Tipologia CRIS:

1.1 Articolo in rivista

Keywords:

Analog front ends, CMOS processes, electronic noise, ionizing radiation effects, pixel readout

Elenco autori:

Autori di Ateneo:

RATTI LODOVICO

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Pubblicato in:

Journal