Instrumentation for noise measurements on CMOS transistors for fast detector preamplifiers

Articolo
Data di Pubblicazione:
2002
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
CMOS processes; low-noise design; charge preamplifiers
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.unipv.it/handle/11571/131711
Pubblicato in:
IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
Journal