Radiation hardness perspectives for the design of analog detector readout circuits in the 0.18 um CMOS generation
Articolo
Data di Pubblicazione:
2002
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
ionizing radiation damage; deep submicron CMOS; front-end electronics
Elenco autori:
Manghisoni, M.; Ratti, Lodovico; Re, V.; Speziali, Valeria
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