Data di Pubblicazione:
2009
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
semiconducting oxides; FR-IR; UV-vis-NIR; EPR; XRD; Rietveld refinement
Elenco autori:
Morandi, S.; Paganini, M. C.; Giamello, E.; Bini, Marcella; Capsoni, Doretta; Massarotti, Vincenzo; Ghiotti, G.
Link alla scheda completa:
Pubblicato in: