Data di Pubblicazione:
2010
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
MAPS; CMOS; radiation hardness; ionizing radiation effects
Elenco autori:
Ratti, Lodovico; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Zucca, S.; Bettarini, S.; Morsani, F.; Rizzo, G.
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