Mechanisms of noise degradation in low power 65 nm CMOS transistors exposed to ionizing radiation
Articolo
Data di Pubblicazione:
2010
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
CMOS; ionizing radiation; noise
Elenco autori:
Re, V.; Gaioni, L.; Manghisoni, M.; Ratti, Lodovico; Traversi, G.
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