Characterization of a tagged gamma-ray beam line at the DA Phi NE Beam Test Facility

Cattaneo, P; Argan, A.; Boffelli, F.; Bulgarelli, A.; Buonomo, B.; Chen, A. W.; D'Ammando, F.; Foggetta, L.; Froysland, T.; Fuschino, F.; Galli, M.; Gianotti, F.; Giuliani, A.; Longo, F.; Marisaldi, M.; Mazzitelli, G.; Pellizzoni, A.; Prest, M.; Pucella, G.; Quintieri, L.; Rappoldi, A.; Tavani, M.; Trifoglio, M.; Trois, A.; Valente, P.; Vallazza, E.; Vercellone, S.; Zambra, A.; Barbiellini, G.; Caraveo, P.; Cocco, V.; Costa, E.; De Paris, G.; Del Monte, E.; Di Cocco, G.; Donnarumma, I.; Evangelista, Y.; Feroci, M.; Ferrari, A.; Fiorini, M.; Labanti, C.; Lapshov, I.; Lazzarotto, F.; Lipari, P.; Mastropietro, M.; Mereghetti, S.; Morelli, E.; Moretti, E.; Morselli, A.; Pacciani, L.; Perotti, F.; Piano, G.; Picozza, P.; Pilia, M.; Porrovecchio, G.; Rapisarda, M.; Rubini, A.; Sabatini, S.; Soffitta, P.; Striani, E.; Vittorini, V.; Zanello, D.; Colafrancesco, S.; Giommi, P.; Pittori, C.; Santolamazza, P.; Verrecchia, F.; Salotti, L.; RI Foggetta Luca/A-4810-2010 valente paolo/A-6640-2010 Morselli, Aldo/G-6769-2011