Data di Pubblicazione:
2013
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
CMOS; monolithic sensors; non-ionozing radiation effects; device simulations
Elenco autori:
Ratti, Lodovico; Luigi, Gaioni; Gianluca, Traversi; Zucca, Stefano; Stefano, Bettarini; Fabio, Morsani; Giuliana, Rizzo; Luciano, Bosisio; Irina, Rashevskaya
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