Data di Pubblicazione:
2002
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
front-end electronics; microstrip detectors; CMOS processes; low-noise design
Elenco autori:
Aubert, B.; Bazan, A.; Boucham, A.; Boutigny, D.; De Bonis, I.; Favier, J.; Gaillard, J. M.; Jeremie, A.; Karyotakis, Y.; Le Flour, T.; Lees, J. P.; Lieunard, S.; Petitpas, P.; Robbe, P.; Tisserand, V.; Zachariadou, K.; Palano, A.; Chen, G. P.; Chen, J. C.; Qi, N. D.; Rong, G.; Wang, P.; Zhu, Y. S.; Eigen, G.; Reinertsen, P. L.; Stugu, B.; Abbott, B.; Abrams, G. S.; Amerman, L.; Borgland, A. W.; Breon, A. B.; Brown, D. N.; Button Shafer, J.; Clark, A. R.; Dardin, S.; Day, C.; Dow, S. F.; Fan, Q.; Gaponenko, I.; Gill, M. S.; Goozen, F. R.; Gowdy, S. J.; Gritsan, A.; Groysman, Y.; Hernikl, C.; Jacobsen, R. G.; Jared, R. C.; Kadel, R. W.; Kadyk, J.; Karcher, A.; Kerth, L. T.; Kipnis, I.; Kluth, S.; Kral, J. F.; Lafever, R.; Leclerc, C.; Levi, M. E.; Lewis, S. A.; Lionberger, C.; Liu, T.; Long, M.; Luo, L.; Lynch, G.; Luft, P.; Mandelli, E.; Marino, M.; Marks, K.; Matuk, C.; Meyer, A. B.; Minor, R.; Mokhtarani, A.; Momayezi, M.; Nyman, M.; Oddone, P. J.; Ohnemus, J.; Oshatz, D.; Patton, S.; Pedrali Noy, M.; Perazzo, A.; Peters, C.; Pope, W.; Pripstein, M.; Quarrie, D. R.; Rasson, J. E.; Roe, N. A.; Romosan, A.; Ronan, M. T.; Shelkov, V. G.; Stone, R.; Strother, P. D.; Telnov, A. V.; von der Lippe, H.; Weber, T. F.; Wenzel, W. A.; Zizka, G.; Bright Thomas, P. G.; Hawkes, C. M.; Kirk, A.; Knowles, D. J.; O'Neale, S. W.; Watson, A. T.; Watson, N. K.; Deppermann, T.; Koch, H.; Krug, J.; Kunze, M.; Lewandowski, B.; Peters, K.; Schmuecker, H.; Steinke, M.; Andress, J. C.; Barlow, N. R.; Bhimji, W.; Chevalier, N.; Clark, P. J.; Cottingham, W. N.; De Groot, N.; Dyce, N.; Foster, B.; Mass, A.; Mcfall, J. D.; Wallom, D.; Wilson, F. F.; Abe, K.; Hearty, C.; Mckenna, J. A.; Thiessen, D.; Camanzi, B.; Harrisott, T. J.; Mckemey, A. K.; Tinslay, J.; Antohin, E. I.; Blinov, V. E.; Bukin, A. D.; Bukin, D. A.; Buzykaev, A. R.; Dubrovin, M. S.; Golubev, V. B.; Ivanchenko, V. N.; Kolachev, G. M.; Korol, A. A.; Kravchenko, E. A.; Mikhailov, S. F.; Onuchin, A. P.; Salnikov, A. A.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Y. u. I.; Telnov, V. I.; Yushkov, A. N.; Booth, J.; Lankford, A. J.; Mandelkern, M.; Pier, S.; Stoker, D. P.; Zioulas, G.; Ahsan, A.; Arisaka, K.; Buchanan, C.; Chun, S.; Faccini, R.; Macfarlane, D. B.; Prell, S. A.; Rahatlou, S. h.; Raven, G.; Sharma, V.; Burke, S.; Callahan, D.; Campagnari, C.; Dahmes, B.; Hale, D.; Hart, P. A.; Kuznetsova, N.; Kyre, S.; Levy, S. L.; Long, O.; Lu, A.; May, J.; Richman, J. D.; Verkerke, W.; Witherell, M.; Yellin, S.; Beringer, J.; Dewitt, J.; Dorfan, D. E.; Eisner, A. M.; Frey, A.; Grillo, A. A.; Grothe, M.; Heusch, C. A.; Johnson, R. P.; Kroeger, W.; Lockman, W. S.; Pulliam, T.; Rowe, W.; Sadrozinski, H.; Schalk, T.; Schmitz, R. E.; Schumm, B. A.; Seiden, A.; Spencer, E. N.; Turri, M.; Walkowiak, W.; Wilder, M.; Williams, D. C.; Chen, E.; Dubois Felsmann, G. P.; Dvoretskii, A.; Hanson, J. E.; Hitlin, D. G.; Kolomensky, Y. u. G.; Metzler, S.; Oyang, J.; Porter, F. C.; Ryd, A.; Samuel, A.; Weaver, M.; Yang, S.; Zhu, R. Y.; Devmal, S.; Geld, T. L.; Jayatilleke, S.; Jayatilleke, S. M.; Mancinelli, G.; Meadows, B. T.; Sokoloff, M. D.; Bloom, P.; Broomer, B.; Erdos, E.; Fahey, S.; Ford, W. T.; Gaede, F.; van Hoek, W. C.; Johnson, D. R.; Michael, A. K.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Park, H.; Rankin, P.; Roy, J.; Sen, S.; Smith, J. G.; Wagner, D. L.; Blouw, J.; Harton, J. L.; Krishnamurthy, M.; Soffer, A.; Toki, W. H.; Warner, D. W.; Wilson, R. J.; Zhang, J.; Brandt, T.; Brose, J.; Dahlinger, G.; Dickopp, M.; Dubitzky, R. S.; Eckstein, P.; Futterschneider, H.; Kocian, M. L.; Krause, R.; Muller Pfefferkorn, R.; Schubert, K. R.; Schwierz, R.; Spaan, B.; Wilden, L.; Behr, L.; Bernard, D.; Bonneaud, G. R.; Brochard, F.; Cohen Tanugi, J.; Ferrag, S.; Fouque, G.; Gastaldi, F.; Matricon, P.; Mora de Freitas, P.; Renard, C.; Rousso, E.; T'Jampens, S.; Thiebaux, C.; Vasileiadis, G.; Verderi, M.; Anjomshoaa, A.; Berne, R.; Di Lodovico, F.; Muheim, F.; Playfer, S.; Swain, J. E.; Falbo, M.; Bozzi, C.; Dittongo, S.; Folegani, M.; Piem
Link alla scheda completa: