Data di Pubblicazione:
2002
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
low-noise preamplifiers; CMOS processes; radiation damage; vertex detectors
Elenco autori:
V., Re; C., Borean; C., Bozzi; V., Carassiti; A., Cotta Ramusino; L., Piemontese; A. B., Breon; D., Brown; A. R., Clark; F., Goozen; C., Hernikl; L. T., Kerth; A., Gritsan; G., Lynch; A., Perazzo; N. A., Roe; G., Zizka; D., Roberts; J., Schieck; E., Brenna; M., Citterio; F., Lanni; F., Palombo; Ratti, Lodovico; P. F., Manfredi; C., Angelini; G., Batignani; S., Bettarini; M., Bondioli; F., Bosi; F., Bucci; G., Calderini; M., Carpinelli; M., Ceccanti; F., Forti; D., Gagliardi; M. A., Giorgi; A., Lusiani; P., Mammini; M., Morganti; F., Morsani; N., Neri; E., Paoloni; A., Profeti; M., Rama; G., Rizzo; F., Sandrelli; G., Simi; G., Triggiani; J., Walsh; P., Burchat; C., Cheng; D., Kirkby; T. I., Meyer; C., Roat; M., Bona; F., Bianchi; D., Gamba; P., Trapani; L., Bosisio; G., Della Ricca; S., Dittongo; L., Lanceri; A., Pompili; P., Poropat; I., Rashevskaia; G., Vuagnin; S., Burke; D., Callahan; C., Campagnari; B., Dahmes; D., Hale; P., Hart; N., Kuznetsova; S., Kyre; S., Levy; O., Long; J., May; M., Mazur; J., Richman; W., Verkerke; M., Witherell; J., Beringer; A. M., Eisner; A., Frey; A. A., Grillo; M., Grothe; R. P., Johnson; W., Kroeger; W. S., Lockman; T., Pulliam; W., Rowe; R. E., Schmitz; A., Seiden; E. N., Spencer; M., Turri; W., Walkowiak; M., Wilder; M., Wilson; E., Charles; P., Elmer; J., Nielsen; W., Orejudos; I., Scott; H., Zobernig
Link alla scheda completa: