Data di Pubblicazione:
2006
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
ANALOG BUILT-IN SELF-TEST; ANALOG IC TEST; ON-CHIP SPECTRUM ANALYZER; SWITCHED-CAPACITOR CIRCUITS; NON-UNIFORM SAMPLING
Elenco autori:
M. A., Domínguez; J. L., Ausín; J. F., Duque Carrillo; Torelli, Guido
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