Data di Pubblicazione:
2000
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
"single-crystal X-ray diffraction"; "radiation damaged zircon"; "localized defects"
Elenco autori:
Rios, S.; Malcherek, T.; Salje, E. K. H.; Domeneghetti, MARIA CHIARA
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