CMOS technologies in the 100 nm range for rad-hard front-end electronics in future collider experiments.

Articolo
Data di Pubblicazione:
2008
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
nanoscale CMOS; ionizing radiation damage; noise measurements
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.unipv.it/handle/11571/117216
Pubblicato in:
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT
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