A compact low-cost test equipment for thermal and electrical characterization of integrated circuits

Articolo
Data di Pubblicazione:
2009
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
ATE; ELECTRO THERMAL MEASUREMENT SYSTEM; FPGA; USB; PELTIER CELL
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.unipv.it/handle/11571/135104
Pubblicato in:
MEASUREMENT
Journal