Data di Pubblicazione:
2023
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
28 nm CMOS, Falaphel project, Front-end electronics, Future HEP experiments
Elenco autori:
Gaioni, L.; Fratus, M.; Galliani, A.; Manghisoni, M.; Ratti, L.; Re, V.; Riceputi, E.; Traversi, G.
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