Deep n-well MAPS in a 130 nm CMOS technology: Beam test results

Neri, N.; Avanzini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Ceccanti, M.; Cenci, R.; Cervelli, A.; Crescioli, F.; Dell'Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Gregucci, S.; Mammini, P.; Marchiori, G.; Massa, M.; Morsani, F.; Paoloni, E.; Piendibene, M.; Profeti, A.; Rizzo, G.; Sartori, L.; Walsh, J.; Yurtsev, E.; Lusiani, A.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Bruschi, M.; Di Sipio, R.; Fabbri, L.; Giacobbe, B.; Gabrielli, A.; Giorgi, F.; Pellegrini, G.; Sbarra, C.; Semprini, N.; Spighi, R.; Valentinetti, S.; Villa, M.; Zoccoli, A.; Andreoli, C.; Gaioni, L.; Pozzati, E.; Ratti, Lodovico; Speziali, Valeria; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Dalla Betta, G. F.; Soncini, G.; Fontana, G.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cristaudo, P.; Giacomini, G.; Iugovaz, D.; Lanceri, L.; Rashevskaya, I.; Vitale, L.; Venier, G.