Data di Pubblicazione:
2010
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
fast data acquisition; monolithic sensors; selective readout architecture; deep submicron CMOS technologies
Elenco autori:
Bettarini, S.; Ratti, Lodovico; Rizzo, G.; Villa, M.; Vitale, L.; Walsh, J.; Avanzini, C.; Batignani, G.; Bosi, F.; Ceccanti, M.; Cenci, R.; Cervelli, A.; Crescioli, F.; Dell'Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Gregucci, S.; Mammini, P.; Marchiori, G.; Massa, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Paoloni, E.; Piendibene, M.; Profeti, A.; Sartori, L.; Yurtsev, E.; Gaioni, L.; Speziali, Valeria; Bruschi, M.; Di Sipio, R.; Fabbri, L.; Giacobbe, B.; Gabrielli, A.; Giorgi, F.; Pellegrini, G.; Sbarra, C.; Semprini, N.; Spighi, R.; Valentinetti, S.; Zoccoli, A.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cristaudo, P.; Giacomini, G.; Jugovaz, D.; Lanceri, L.; Rashevskaya, I.; Venier, G.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Dalla Betta, G. F.; Soncini, G.; Fontana, G.
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