Radiation effects on the noise parameters of a 0.18um CMOS technology for detector front-end applications
Articolo
Data di Pubblicazione:
2003
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
ionizing radiation effects; deep submicron CMOS processes; analog front-end
Elenco autori:
Manghisoni, M.; Ratti, Lodovico; Traversi, G.
Link alla scheda completa:
Pubblicato in: