Neural spatial pattern recognition of defects in semiconductor manufacturing

Contributo in Atti di convegno
Data di Pubblicazione:
2004
Tipologia CRIS:
4.1 Contributo in Atti di convegno
Keywords:
Semiconductor manufacturing; neural networks; pattern recognition; fault detection
Elenco autori:
Autori di Ateneo:
Link alla scheda completa:
https://iris.unipv.it/handle/11571/19242
Pubblicato in:
ATTI DELLA FONDAZIONE GIORGIO RONCHI
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