Data di Pubblicazione:
2017
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
Charge preamplifiers; CMOS processes; electronic noise; ionizing radiation effects; Nuclear and High Energy Physics; Nuclear Energy and Engineering; Electrical and Electronic Engineering
Elenco autori:
Ratti, Lodovico; Gaioni, Luigi; Manghisoni, Massimo; Re, Valerio; Riceputi, Elisa; Traversi, Gianluca
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