Comparison of ionizing radiation effects in 0.18 and 0.25 um CMOS technologies for analog applications
Articolo
Data di Pubblicazione:
2003
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
ionizing radiation effects; scaling effects; deep submicron CMOS processes
Elenco autori:
Manghisoni, M.; Ratti, Lodovico; Re, V.; Speziali, Valeria; Traversi, G.; Candelori, A.
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