Effects of gamma-rays on JFET devices and circuits fabricated in a detector-compatible process

Articolo

Data di Pubblicazione:

2003

Tipologia CRIS:

1.1 Articolo in rivista

Keywords:

ionizing radiation effects; electronic noise; junction field-effect transistors; detector compatible processes

Elenco autori:

Autori di Ateneo:

RATTI LODOVICO

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Pubblicato in:

Journal