Radiation hardness characterization of the front-end chip for the BaBar silicon vertex tracker
Articolo
Data di Pubblicazione:
1999
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
radiation hardness; microstrip detectors; mixed-signal front-end electronics; low-noise design
Elenco autori:
Mandelli, E.; Perazzo, A.; Ratti, Lodovico; Re, V.
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