Survey of noise performances and scaling effects in deep submicron CMOS devices from different foundries

Articolo

Data di Pubblicazione:

2005

Tipologia CRIS:

1.1 Articolo in rivista

Keywords:

CMOS technology scaling; white noise; flicker noise; deep submicron CMOS processes

Elenco autori:

Autori di Ateneo:

RATTI LODOVICO

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Pubblicato in:

Journal