Proton induced damage in JFET transistors and charge preamplifiers on high-resistivity silicon

Articolo

Data di Pubblicazione:

2004

Tipologia CRIS:

1.1 Articolo in rivista

Keywords:

non ionizing radiation effects; junction field-effect transistors; electronic noise

Elenco autori:

Autori di Ateneo:

RATTI LODOVICO

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Pubblicato in:

Journal