Beam test results of different configurations of deep N-well MAPS matrices featuring in pixel full signal processing
Articolo
Data di Pubblicazione:
2011
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
CMOS monolithic sensors; low-noise analog front-end; fast data acquisition system; detection efficiency measurement
Elenco autori:
Paoloni, E.; Avanzini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Calderini, G.; Casarosa, G.; Ceccanti, M.; Cenci, R.; Cervelli, A.; Crescioli, F.; Dellorso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Gregucci, S.; Mammini, P.; Marchiori, G.; Massa, M.; Morsani, F.; Neri, N.; Piendibene, M.; Profeti, A.; Rizzo, G.; Sartori, L.; Walsh, J.; Yurtsev, E.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Bruschi, M.; Di Sipio, R.; Giacobbe, B.; Gabrielli, A.; Giorgi, F.; Pellegrini, G.; Sbarra, C.; Semprini, N.; Spighi, R.; Valentinetti, S.; Villa, M.; Zoccoli, A.; Citterio, M.; Liberali, V.; Palombo, F.; Andreoli, C.; Gaioni, L.; Pozzati, E.; Ratti, Lodovico; Speziali, Valeria; Gamba, D.; Giraudo, G.; Mereu, P.; Dalla Betta, G. F.; Soncini, G.; Fontana, G.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cristaudo, P.; Giacomini, G.; Jugovaz, D.; Lanceri, L.; Rashevskaya, I.; Vitale, L.; Venier, G.
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