Data di Pubblicazione:
2012
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
bulk damage; CMOS MAPS; rad-hard design; noise measurement
Elenco autori:
Zucca, S.; Ratti, Lodovico; Traversi, G.; Bettarini, S.; Morsani, F.; Rizzo, G.; Bosisio, L; Rashevskaya, I.; Cindro, V.
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