Data di Pubblicazione:
1989
Abstract:
Artefatti e contaminanti in spettrometria di massa, parte seconda di una rassegna: gli artefatti che sorgono durante il processo di analisi strumentale.
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
spettrometria di massa, artefatti
Elenco autori:
Mellerio, G.
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