Quadruple Well CMOS MAPS With Time-Invariant Processor Exposed to Ionizing Radiation and Neutrons
Articolo
Data di Pubblicazione:
2014
Tipologia CRIS:
1.1 Articolo in rivista
Keywords:
CMOS MAPS, Total ionising dose, Bulk damage
Elenco autori:
Ratti, Lodovico; Traversi, Gianluca; Zucca, Stefano; Bettarini, Stefano; Morsani, Fabio; Rizzo, Giuliana; Bosisio, Luciano; Rashevskaya, Irina
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